СЕРТИФИКАЦИЯ, ЛИЦЕНЗИРОВАНИЕ, КОНСАЛТИНГ
Главная \ Новости \ Новые стандарты на рефлектометры и рефрактометры

Новые стандарты на рефлектометры и рефрактометры

« Назад

Новые стандарты на рефлектометры и рефрактометры 14.12.2011 22:40

  С 1 января 2012 г. вступает в силу новый ГОСТ Р 8.716-2010 «Государственная система обеспечения единства измерений. Рефлектометры экстремального ультрафиолетового излучения для измерений характеристик многослойных наноструктур в диапазоне длин волн от 10 до 30 нм. Методика выполнения измерений». 

  Стандарт распространяется на «средства измерений характеристик многослойных наноструктур в диапазоне длин волн от 10 до 30 нм - рефлектометры экстремального вакуумного ультрафиолетового излучения, предназначенные для измерения коэффициентов зеркального и диффузного отражения, и устанавливает методику измерений коэффициентов зеркального и диффузного отражения. 

  ЭУФ рефлектометры обеспечивают в диапазоне длин волн от 10 до 30 нм измерение коэффициентов зеркального и диффузного отражения в диапазоне значений от 0,01 до 0,99. В качестве источников непрерывного ЭУФ излучения используют электронные накопительные кольца. 

  В качестве источников импульсного ЭУФ излучения используют открытые излучатели на основе капиллярного разряда с испаряющейся стенкой или плазменного фокуса, а также электронные синхротроны. В качестве приемников ЭУФ излучения используют солнечно-слепые фотодиоды на основе многослойных наноструктур». 

  Также с 1 января следующего года вступит в силу новый ГОСТ Р 8.730-2010 «Государственная система обеспечения единства измерений. Рефрактометры интерференционные газоаналитические. Методика поверки».


Название
Сертификационный Центр

ОФОРМЛЕНИЕ РАЗРЕШИТЕЛЬНЫХ
ДОКУМЕНТОВ, СЕРТИФИКАЦИЯ, ЛИЦЕНЗИРОВАНИЕ 

Адрес:
г.Санкт-Петербург,В.О.,
ул.Уральская,д.13,Лит.К,
офис 24 (БЦ "АЛМАЗ")
Телефон: